Plateforme de recherche et d’analyse des matériaux

La Plateforme de recherche et d’analyse des matériaux (PRAM) est dotée à la fois d’une vocation de formation, de recherche, d’enseignement et de service. Elle met ses techniques de caractérisation à la disposition non seulement des chercheuses, chercheurs, étudiantes, étudiants de l’université et d’autres universités, mais également des entreprises et des organismes du secteur public. Elle permet à ses partenaires et à ses clients d’accéder à des techniques ultraspécialisées et de bénéficier de l’appui d’une équipe multidisciplinaire de spécialistes dans les différents domaines de la recherche, de l’analyse et de la caractérisation des matériaux.plateforme offre une série de méthodes validées pour l’analyse d’une centaine contaminants organiques à l’état de traces dans les matrices solides et liquides d’intérêt environnemental. La plateforme est gérée par un professionnel en charge de la maintenance et le soutien technique et scientifique.

Types de contaminants analysés :

• Métaux et métalloïdes 
• Analyse de surfaces et films minces 

• Microscopie à force atomique (AFM) [Nanoscope IIIa de Digital Instruments];
• Microscopie électronique à balayage à pression variable (VP-SEM) [S-3000N de Hitachi];
• Microscopie élecronique à balayage à effet de champ (FEG-SEM) [S-4700 de Hitachi];
• Microscopie électronique à transmission (TEM) [ H-7500 de Hitachi];
• Analyse chimique par spectroscopie d’électrons (XPS) [XPS Axis UltraDLD de Kratos];
• Spectroscopie de fluorescece de rayons X dispersive en longeur d’onde (WD-XRF) [Axios Advanced de Panalytical].

• Analyses chimiques

Types de matrice 

• Sol, boue ou sédiment